National Instruments presenta su primera unidad de medida de fuente PXI (SMU: Source Measure Unit) y los conmutadores PXI de más alta densidad de la industria. Estos productos mejoran aún más la plataforma PXI para su uso en aplicaciones de CC de precisión, como son los casos de las pruebas paramétricas de semiconductores y la validación de componentes y dispositivos electrónicos.
Los profesionales del sector de la ingeniería pueden utilizar estos módulos de manera conjunta para caracterizar con precisión los parámetros de tensión y corriente en los dispositivos que disponen de un elevado número de pines, con las ventajas de un tamaño más pequeño y un menor costo en comparación con los métodos tradicionales.
“Ha sido interesante ver como las nuevas innovaciones en arquitecturas analógicas y basadas en FPGA dan como resultado un rendimiento excepcional en un tamaño drásticamente más reducido “, comenta Ken Reindel, director de tecnología de medida de National Instruments. “El SMU de potencia NI PXI-4130 representa una excelente mezcla de precisión, potencia y tamaño compacto que permite a los ingenieros la aplicación de los beneficios de PXI a las nuevas aplicaciones”.
El SMU y los conmutadores de alta densidad PXI complementan a los numerosos instrumentos que los ingenieros pueden utilizar para la validación de dispositivos semiconductores incluyendo dispositivos digitales de alta velocidad, instrumentos de señales mixtas y equipos de RF. Cuando se combinan en un sistema PXI, estos instrumentos pueden crear una solución altamente flexible para la validación estructural y funcional de semiconductores, así como para la caracterización general de componentes electrónicos. Estos productos también pueden trabajar con el software de gestión NI TestStand, el entorno gráfico de desarrollo LabVIEW, NI SignalExpress, NI LabWindows™/CVI y Measurement Studio NI.